展芯芯片分析實(shí)驗(yàn)室：全方位半導(dǎo)體檢測服務(wù)

在當(dāng)今高度信息化的時(shí)代，半導(dǎo)體技術(shù)作為信息技術(shù)的核心支柱之一，其重要性不言而喻。為了滿足市場對高質(zhì)量、高可靠性的半導(dǎo)體產(chǎn)品的需求，展芯芯片分析實(shí)驗(yàn)室（Perfict IC Analysis Lab）應(yīng)運(yùn)而生。作為一家專業(yè)的半導(dǎo)體失效分析和檢測機(jī)構(gòu)，我們致力于為客戶提供從芯片設(shè)計(jì)到生產(chǎn)過程中的全方位技術(shù)支持。

我們的設(shè)備與技術(shù)

展芯芯片分析實(shí)驗(yàn)室配備了先進(jìn)的檢測設(shè)備，包括：

Decap系統(tǒng)：用于去除芯片封裝材料，以便進(jìn)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)的觀察。

FIB（聚焦離子束）：能夠?qū)崿F(xiàn)納米級別的精確加工和樣品制備。

SEM（掃描電子顯微鏡）：提供高分辨率的表面形貌圖像，幫助識(shí)別細(xì)微缺陷。

EMMI（電光顯微鏡）：通過光學(xué)手段探測芯片內(nèi)部的電活動(dòng)，定位潛在故障點(diǎn)。

X-Ray（X射線）：非破壞性地檢查芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)，發(fā)現(xiàn)隱藏問題。

SAT（應(yīng)力分析測試）：評估芯片在各種條件下的可靠性。

我們的服務(wù)范圍

我們的服務(wù)涵蓋了從晶圓到成品芯片的各個(gè)階段，具體包括：

失效分析：針對出現(xiàn)故障的芯片進(jìn)行深入分析，找出失效原因，提出改進(jìn)措施。

顯微拍照：使用高精度顯微鏡拍攝芯片的微觀結(jié)構(gòu)照片，便于后續(xù)研究和分析。

探針臺(tái)：用于在芯片上進(jìn)行電氣特性測試，確保產(chǎn)品的性能符合標(biāo)準(zhǔn)。

專業(yè)團(tuán)隊(duì)與質(zhì)量保證

展芯芯片分析實(shí)驗(yàn)室擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，他們不僅具備扎實(shí)的專業(yè)知識(shí)，還擁有豐富的實(shí)際操作經(jīng)驗(yàn)。我們始終遵循嚴(yán)格的質(zhì)量管理體系，確保每一份報(bào)告的準(zhǔn)確性和可靠性。

展芯芯片分析實(shí)驗(yàn)室憑借其先進(jìn)的設(shè)備和技術(shù)能力，為半導(dǎo)體行業(yè)提供了高效、精準(zhǔn)的檢測解決方案。無論是芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證還是生產(chǎn)過程控制，我們都將是您值得信賴的合作伙伴。如果您有任何需求或疑問，歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們，我們將竭誠為您服務(wù)。